プラトー特性
検出器に印加する電圧と計数率の関係をプラトー特性といい、比例計数管やGM計数管の使用電圧を決めたり計数管の動作試験として行われる。プラトー試験は次の通りに行う。
① 印加電圧が低い(およそ1000V未満)とき出力パルス波高はディスクリミネータの弁別レベル(Edsc)より低く、ディスクリミネータから出力は出来ない。
② さらに印加電圧を上げると陽極全体に電子なだれが生じ、パルス波高がディスクリミネータの弁別レベルを超えて計数され始める。
③ この計数開始電圧よりさらに電圧を上げると、電子なだれはいっそう成長し、パルス波高が高くなってGM計数管で生じた全てのパルスが弁別レベル(Edsc)を超えて計数される。これ以上電圧を上げてもパルス波高は高くなるが計数管に入射する放射線の数は一定であるから計数率が増えることなく一定になる。この間の電圧の領域をプラトーという。
④ プラトー領域を超えてさらに印加電圧を上げると、計数率が急激に上昇する。この電圧ではガイガー放電は異常に高くなって、消滅ガスの抑制作用は限界を越える。このような状態になると、消滅ガスが消耗してGM計数管の寿命を縮めたり、場合によっては連続放電を起こしてGM計数管が破壊することがある。通常のGM計数管ではプラトーの長さはおよそ 200 V 程度である。
また下記のサイトに私がまとめた資料を示しております。